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GTEM小室

采用GTEM（吉赫茲?rùn)M電磁波）進(jìn)行電磁兼容性測(cè)試是近年來(lái)國(guó)際電磁兼容領(lǐng)域發(fā)展的一項(xiàng)新的測(cè)量技術(shù)。

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采用GTEM（吉赫茲?rùn)M電磁波）進(jìn)行電磁兼容性測(cè)試是近年來(lái)國(guó)際電磁兼容領(lǐng)域發(fā)展的一項(xiàng)新的測(cè)量技術(shù)。由于GTEM的寬頻帶特性（從直流到微波），低造價(jià)（只相當(dāng)電波暗室造價(jià)的百分之幾），既可用于電磁輻射敏感度試驗(yàn)（EMS試驗(yàn)。有時(shí)也稱抗擾度試驗(yàn)），又可用于電磁輻射試驗(yàn)（EMI試驗(yàn)）而且所用儀器（相對(duì)在電波暗室中做試驗(yàn)來(lái)說(shuō)）有配置簡(jiǎn)單，成本便宜和可用于快速和自動(dòng)測(cè)試的特點(diǎn)，所以越來(lái)越受到國(guó)際和國(guó)內(nèi)有關(guān)人士的重視。其中尤以對(duì)待小設(shè)備的測(cè)試，GTEM小室的測(cè)量方案是性能價(jià)格比佳的測(cè)試方案。

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